主な保有設備
装置名 メーカー 機種名 導入年度
電気伝導度・電気化学測定関連     (空欄は1985年以前)
ブリッジ抵抗計 横川ヒューレットパッカード  
導電率計 堀場製作所 DS-15 1991
インピーダンスアナライザ ヒューレットパッカード 4192A 1989
プレシションLCRメータ ヒューレットパッカード 4284A 1998
プレシションLCRメータ ヒューレットパッカード 4285A 1998
pHメータ 堀場製作所 各種 1991
ポテンショ・ガルバノスタット 北斗電工 各種 1999
誘電率測定セル ヒューレットパッカード 1999
分光計関連      
可視紫外分光計 日本分光 UVIDEC660
付属:積分球
1986
可視紫外分光計 日立 S-3000
付属:積分球
2000
フーリエ変換赤外分光計 日本分光 FT-IR615
付属:高温拡散反射・MCT検出器・
ATR・角度可変RAS・PAS・顕微IR(Micro-20)
1997
CCD分光分析計 浜松ホトニクス PMA-11 1997
ラマン分光器 堀場製作所 Ramanor T64000 2003
顕微ラマン測定セル 堀場製作所 T64000用 2005
高温高圧ラマンセル AABSPEC #2000-A 2000
蛍光分光光度計 日本分光 FP6500 2001
定量分析関連      
液体クロマトグラフ 日本分光 Gulliver 1500 1995
ガスクロマトグラフ 島津製作所 GC-14A 1998
カール・フィッシャー水分測定装置 三菱化学 CA-07 1998
ICP-AES分光分析装置 堀場製作所 ULTIMA2000R 2004
その他物性測定関連      
表面積測定装置 ユアサアイオニクス NOVA1000 1999
超音波音速・吸収測定装置 帝通電子研究所
粉末X線回折測定装置 リガク ガイガーフレックス
薄膜X線回折測定装置 リガク RINT2100 1994
回転対陰極型X線回折測定装置 リガク RINT-TTR 2000
広域X線吸収端微細構造解析装置 リガク R-EXAFS Super 1997
小角X線散乱測定装置 AntonPaar(PANalytical) SAXSess 2004
示差熱天秤・示差走査熱量天秤 リガク ThermoPlus TG-DTA 1995
示差走査熱量計 リガク ThermoPlus DSC 1995
原子間力顕微鏡 セイコー電子 SPM3800N
構成:SPA300・AFM・DFM・
電流同時測定AFM・液中AFM・STM
1997(3800Nは2001)
シーケンシャル型蛍光X線測定装置 島津製作所 XRF1800 2001
エリプソメータ 日本分光 M-220 2001
電界放射型走査電子顕微鏡 日本電子 JSM-6335F 2001
エネルギー分散形X線分析装置 日本電子 EX23000BU 2003
電子顕微鏡試料作製装置関連      
ウルトラミクロトーム ライカ ULTRACUT 1998
ダイヤモンドカッタ ビューラ ISOMET 2000
ポリッシャ NTTアドバンスドテクノロジ プチポリッシャ 2000
ディンプルグラインダ ガタン 656 2000
超音波ディスクカッター ガタン 601 2001
イオンポリッシングシステム ガタン 691 2000
カーボンコータ 盟和商事 1999
蒸着装置関連      
真空蒸着装置 真空理工 各種 1992-1996
試料調製設備関連      
グローブボックス 美和製作所 1ADB-2
付属:循環型脱水装置
1999
グローブボックス 美和製作所 1ADB-3
付属:水分計(露点計 +20-110℃表示)
2003
赤外線導入加熱装置 サーモ理工 1996
高温加熱炉 各社 各種
天秤 各社 各種
恒温チャンバー 三商 1998
恒温槽温度調節器 各社 各種 1998
小型プラズマ処理装置 盟和商事 プラズマプレップ2 2001
電子描画装置 エリオニクス ELS-3700 2003
ICPエッチング装置 エリオニクス EIS-700 2003
情報処理関連      
PC 各社 各種約10台
プリンタ FujiXerox 3320PS 1998
PCサーバ Dell Dimension 8250 2003
研究室ルータ Corega BAR SW-4P Pro 2001
情報コンセント 自作 1セグメント(MAX255) 2001
フィルムスキャナ ミノルタ DiMAGE Scan Multi PRO 2001